Analiza comportării din punct de vedere electronic al limitelor de granulaţie în semiconductoare utilizînd un fascicol de lumină şi de electroni
LDR:01063nam# 2200217##
001
3938
009
ubfixit050.016 Analyse des elektronischen Verhaltens von Korngrenzen in Halbleitorn mit dicht - und Elektronenstrahl - Rasterver fahren\\MAREK, Jiri1983\
010$d
0.01
100$a
20220428u########m##u0rumy50######ba
101$a
ger
200$a
Analyse des elektronischen Verhaltens von Korngrenzen in Halbleitorn mit dicht - und Elektronenstrahl - Rasterver fahren
$f
Jiri Marek
210$a
Stuttgart
$L
s3943
$c
Max-Plank-Institut für Feskörperforschung
$d
1983
215$a
103p.
$c
fig.
$d
21cm
300$a
Analiza comportării din punct de vedere electronic al limitelor de granulaţie în semiconductoare utilizînd un fascicol de lumină şi de electroni
327$a
Analiza comportării din punct de vedere electronic al limitelor de granulaţie în semiconductoare utilizînd un fascicol de lumină şi de electroni
608$3
111055
$a
96
675$a
537.222.22
675$a
621.383;621.315.592:537.222.22(043)
675$a
043
675$a
621.315.592
679$d
50/54
700$3
45258
$a
Marek
$b
Jiri
801
0
$a
RO
$b
UTCB
$c
20220428
$2
unimarc
852$j
UTCB - 621.38/M 35
Text tipărit: monografic
