UTCB |

Limba:
Română
- English

Transient Errors Impact Analysis for Sub-Powered CMOS Circuits at Multiple Levels of Abstraction of a Digital System

Tipul înregistrării:	Text tipărit: monografic
Autor:	Nimară, Sergiu
Conducătorul tezei:	Popa, Mircea
Responsabilitate:	Sergiu Nimară
Responsabilitate secundară:	cond. ştiinţific prof. dr. ing. Mircea Popa
Editura:	Politehnica
Locul publicării:	Timişoara
Anul Ediției:	2016
ISBN:	978-606-35-0098-5
Descriere:	118 p : fig; 24 cm
Note:	Universitatea "Politehnica" Timişoara. Teză de doctorat. Cond. ştiinţific prof. univ. dr. ing. Mircea Popa
Note:	Analiza impactului erorilor tranzitorii ale circuitelor CMOS subalimentate la niveluri multiple de abstractizare ale unui sistem digital
Limba:	Engleză
Serie:	Seria 14 : Calculatoare şi tehnologia Informaţiei. ISSN : 2069-8216
Subiect:	circuit integrat CMOS subalimentat evaluarea fiabilităţii tehnica defectelor induse eroare probabilitate nivel tranzitor decodor
Subiect:	știința și tehnologia computerelor prelucrarea datelor
Subiect:	Schimb documentar
Subiect:	Titluri în limbă străină
Subiect:	Teze de doctorat
Subiect:	73
Subiect:	2017
Cota topografică:	004.052/N 75
Clasificare:	004.052:621.3.049.774.2(043)
Clasificare:	004.052
Clasificare:	621.3.049.774.2
Clasificare:	043
Note conţinut (cuprins):	Analiza impactului erorilor tranzitorii ale circuitelor CMOS subalimentate la niveluri multiple de abstractizare ale unui sistem digital
Note conţinut (cuprins):	circuit integrat CMOS subalimentat, evaluarea fiabilităţii, tehnica defectelor induse, eroare, probabilitate, nivel tranzitor, decodor

004.052/N 75
NIMARĂ, Sergiu

Transient Errors Impact Analysis for Sub-Powered CMOS Circuits at Multiple Levels of Abstraction of a Digital System [*Carte tipărită] / Sergiu Nimară; cond. ştiinţific prof. dr. ing. Mircea Popa.- Timişoara : Politehnica, 2016
118 p : fig ; 24 cm. - (Seria 14 : Calculatoare şi tehnologia Informaţiei. ISSN : 2069-8216 ; 32)
Universitatea "Politehnica" Timişoara. Teză de doctorat. Cond. ştiinţific prof. univ. dr. ing. Mircea Popa
Analiza impactului erorilor tranzitorii ale circuitelor CMOS subalimentate la niveluri multiple de abstractizare ale unui sistem digital
Analiza impactului erorilor tranzitorii ale circuitelor CMOS subalimentate la niveluri multiple de abstractizare ale unui sistem digital.
circuit integrat CMOS subalimentat, evaluarea fiabilităţii, tehnica defectelor induse, eroare, probabilitate, nivel tranzitor, decodor.
ISBN: 978-606-35-0098-5: 26.00

NIMARĂ, Sergiu

004.052:621.3.049.774.2(043)
004.052
621.3.049.774.2
043
circuit integrat CMOS subalimentat evaluarea fiabilităţii tehnica defectelor induse eroare probabilitate nivel tranzitor decodor știința și tehnologia computerelor prelucrarea datelor

LDR:01582nam 2200313 001 112028
009 ubfixit050.016 Transient Errors Impact Analysis for Sub-Powered CMOS Circuits at Multiple Levels of Abstraction of a Digital System
010 $a 978-606-35-0098-5 $d 26.00
020 $b 1/2017
100 $a 20220428u m u0rumy50 ba
101 0 $a eng
109 0 $a d
122 0 $a d
200 0 $a Transient Errors Impact Analysis for Sub-Powered CMOS Circuits at Multiple Levels of Abstraction of a Digital System $f Sergiu Nimară $g cond. ştiinţific prof. dr. ing. Mircea Popa $b *Carte tipărită
210 # # $a Timişoara $L s4612 $c Politehnica $d 2016
215 $a 118 p $c fig $d 24 cm
225 0 $a Seria 14 : Calculatoare şi tehnologia Informaţiei. ISSN : 2069-8216 $v 32
300 $a Universitatea "Politehnica" Timişoara. Teză de doctorat. Cond. ştiinţific prof. univ. dr. ing. Mircea Popa
300 $a Analiza impactului erorilor tranzitorii ale circuitelor CMOS subalimentate la niveluri multiple de abstractizare ale unui sistem digital
327 # # $a Analiza impactului erorilor tranzitorii ale circuitelor CMOS subalimentate la niveluri multiple de abstractizare ale unui sistem digital
327 # # $a circuit integrat CMOS subalimentat, evaluarea fiabilităţii, tehnica defectelor induse, eroare, probabilitate, nivel tranzitor, decodor
345 $b 2017/7
410 $0 93063 $t Seria 14 : Calculatoare şi tehnologia Informaţiei. ISSN : 2069-8216
606 $3 133199 $a circuit integrat CMOS subalimentat evaluarea fiabilităţii tehnica defectelor induse eroare probabilitate nivel tranzitor decodor
606 $3 126570 $a știința și tehnologia computerelor prelucrarea datelor
608 # $3 111078 $a Schimb documentar
608 # $3 111060 $a Titluri în limbă străină
608 # $3 111142 $a Teze de doctorat
608 $3 111061 $a 73
608 $3 111111 $a 2017
675 $a 004.052:621.3.049.774.2(043)
675 $a 004.052
675 $a 621.3.049.774.2
675 $a 043
679 $a 004 $d 0
700 $3 52106 $a Nimară $b Sergiu
702 $3 57553 $4 727 $a Popa $b Mircea
801 0 $a RO $b UTCB $c 20220428 $g unimarc
850 $a UTCB
852 # # $j 004.052/N 75